| 半導体素子 |
| ＳｉＧｅ ＨＢＴ、ＭＥＭＳ、ＭＯＳＦＥＴ、ＰＮＰ、ＮＰＮ、ＳＯＩ、ＬＤＭＯＳ、超接合デバイス、表面チャネルデバイス、ツェナーダイオード、ＬＥＤ、フォトダイオード、ＴＭＢＳ、エミッターベース接合、バラクタ、ＭＩＭキャパシタ、ＰＩＳキャパシタ、ＦＰＧＡチップ、ＬＥＤチップ、フリップチップ、積層チップ、ＬＯＣＯＳ、ＳＴＩ、サリサイド、ゲート形成、埋込層、ＣＶＤ、ＣＭＰ、パターニング、プラズマ洗浄、エッチング、エピタキシ、ダミーウエハ、基板回収、基板製造、ボンドパッド、ウェハボンディング、汚染物検出 |
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| 光学・照明・表示 |
| ３Ｄ映像撮影、パノラマステレオ動画、頭部装着ディスプレイ、ステレオ撮像装置、拡張現実、バーチャルリアリティ、視覚装置、走査型光学顕微鏡法、焦電センサ、光学素子、空間光変調器、多層膜反射鏡、反射・帯電防止膜、発光素子、ビームホモジナイザ、表示装置、表示内容調整、蛍光照明システム、照明光学システム、反射屈折光学系、ＬＥＤ照明器具、有機電界発光表示装置、能動型有機発光表示装置（ＡＭＯＬＥＤ）、エルコス（ＬＣＯＳ）パネル、薄膜トランジスタ、光学的特性の復元、マイクロレンズ、対物レンズ、レーザアニール、レーザ冷却装置、ＬＥＤレンズ、撮像素子、背面照射型センサー、画素構造、ＧＩＰ回路、光ファイバクランプ |
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| フォトリソグラフィー |
| 露光装置、干渉計、磁気浮上平面モータ、リニアモーター、平面ボイスコイルモータ、ハルバッハ配列構造、気体浮上装置、フォトマスク、アライメントマーク、デュアル・ウェハステージ・システム、ガントリー装置、自己減衰シャッター、光近接効果補正、合焦及びレベリング、オーバレイエラー測定、プリアライメント、軸外アライメント、歪み計測、重心校正、重力補償、バランスマスシステム、フォトマスクの撓み矯正、レチクル搬送、ウエハ検査、ウェハ保持構造、ウエハエッジ保護 |
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| データ処理 |
| ＳＤ／ＳＤＩＯホストコントローラー、安全な金融取引システム、セキュリティキー入力システム、測定データ処理、テストスイートの最適化、テストデータ圧縮、ストーリーテリング、漢字入力、スワイプ入力、ソフトウェアパッケージの更新、バリデーションプロトコル、障害報告票の分類と解決、ビデオ品質最適化、アルゴリズム制御、画像のベクトル化、画像データ最適化、温度データ処理、テキスト入力、メッセージの提供・アセスメント、キャリア分析プラットホーム、中間モジュール、アクティブスタイラス、自動奨励 |
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| 測定・検証 |
| レーザー画像検出と測距、マルチフォーカス検査装置、薄膜計測、変圧器計測、電流センサー、超音波探傷検査、回路遮断器検査、流量計測、並列テスト、試験器具、人物照合装置、近接型結合装置、画像撮影システム、残留磁気除去装置、物理的クローン不可関数、物体位置計測、ＩＣカードリーダー、証明書作成システム、文書バッファ、文書スキャン装置、書類検証、文書読取り装置 |
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| 化学・冶金 |
| 化粧品組成物、顔料組成物、ホットメルト接着剤、レアアース回収、メタン生産、水素発生装置、生分解性ポリマー、エステル合成用触媒、アルミナ磁器、固体酸化物形燃料電池、逆浸透システム、微細発泡射出成形、高分子ペレット、研磨剤、ヒドロゲル、シーラント、接着剤固化、熱間プレス、鉄-ニッケル合金、帯鋼、シリコンゴムシート、石英ルツボ、蛍石処理、ガス抜き |
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| 情報記憶 |
| 内蔵型フラッシュメモリ、電気的消去可能 プログラマブルＲＯＭ（ＥＥＰＲＯＭ）、記憶装置、メモリアレイ、プログラミング検証用制御回路、微分ベクトルストレージ、メモリー管理、組み込み自己テスト回路、メモリテスト回路、チャージポンプ回路、読取操作時間制御、データ記憶デバイス、昇圧コンデンサ回路、ワード線電圧制御 |
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| 生物・製薬 |
| ＧＰＲ１１９アゴニスト、バイオセンサー、ｍｉＲＮＡ、ＰＬＰ依存酵素、点鼻剤、肺がん検出方法、高親和性抗体、キナーゼ阻害薬、尿検査試薬、生体高分子検出、湿疹治療薬、脱細胞方法、マイクロ流体分取装置、宿主細胞シミュレーション、電源モジュール、医薬製剤 |
